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　　光纜大衰耗點造成的幾類狀況和原因

　　1敷設(shè)時造成的大衰耗點

　　在光纜施工中，因為光纜敷設(shè)長短一般在2～3KM直埋敷設(shè)時，穿越的路障較多，在施工中，敷設(shè)工作人員較多，敷設(shè)間距很遠(yuǎn)，無法確保全部敷設(shè)工作人員融洽行動，非常是根據(jù)路障較多時，如：穿　越防護(hù)鋼管，轉(zhuǎn)彎、上下坡等，進(jìn)而出現(xiàn)別名的光纜打背扣(出現(xiàn)死彎)狀況，對光纜導(dǎo)致嚴(yán)重?fù)p害，一旦產(chǎn)生死彎狀況，這里必定會出現(xiàn)一個大衰耗點，嚴(yán)重的會產(chǎn)生部分或所有光纖破裂狀況，它是光纜　施工中容易出現(xiàn)的故障狀況。除此之外，在敷設(shè)光纜時，光纜邊緣的光纜*容易遭受損害，在接續(xù)時，通常在接續(xù)點處顯示有很大衰耗值，這時，即使重復(fù)熔接，也不可以減少接續(xù)耗損值，進(jìn)而產(chǎn)生一個很大的衰耗點。

　　2接續(xù)過程中造成的大衰耗點

　　在光纜接續(xù)過程中，造成大衰耗點是經(jīng)常產(chǎn)生的，人們一般用OTDR(光時域反射儀)進(jìn)行監(jiān)測，即每熔接一根光纖，都用OTDR檢測一下熔接點的衰耗值，實際檢測時，選用雙向監(jiān)測法，因為光纖生產(chǎn)制造過程中存有的差異，二根光纖不太可能完全一致，一直存有模場直徑不一致狀況，可能會導(dǎo)致了用OTDR測定的耗損值并非接續(xù)點的具體耗損值，其標(biāo)值有正有負(fù)，一般用雙向檢測值的算術(shù)平均值做為具體衰耗值。在接續(xù)時，一般用即時監(jiān)測法，基礎(chǔ)能確保熔接耗損超過控制目標(biāo)，但經(jīng)常造成大耗損點的原因是在熔接結(jié)束后進(jìn)行光纖收容時，部分光纖受力或彎折半經(jīng)過小，即產(chǎn)生一個大衰耗點。由于1550nm光波長的光纖對微彎耗損十分敏感，光纖一旦受力，即造成一個微彎點，或盤纖時，彎折半經(jīng)過小，光纖信號在這里也造成很大的衰耗，主要表現(xiàn)在光纖后向透射曲線上，就產(chǎn)生了一個很大的衰耗臺階;此外，一個很容易忽略的原因是光纜接頭盒拼裝進(jìn)行后，固定不動接頭盒和固定不動光纜時，因為光纜在接頭盒內(nèi)固定不動的不是很堅固，導(dǎo)致光纜擰轉(zhuǎn)，使光纖束管形變，因為光纖受力，導(dǎo)致光纖衰耗值大幅度提升，產(chǎn)生衰耗臺階。

　　3運送和裝卸導(dǎo)致的大衰耗點

　　在光纜運送到施工現(xiàn)場時，因為當(dāng)場環(huán)境較為惡劣，非常是敷設(shè)鐵路線通訊光纜時，吊車通常沒法抵達(dá)施工現(xiàn)場，這時，經(jīng)常是根據(jù)人力資源裝卸光纜，在光纜卸掉的過程中，表層光纜經(jīng)常遭受損害，原因是光纜盤直徑過小，造成表層光纜離路面間距太近，因為當(dāng)場路面土層硬軟不一，坑坑洼洼，在翻轉(zhuǎn)光纜盤的過程中，光纜盤陷入路面，造成表層光　纜被路面硬塊硌壞，關(guān)鍵原因是部分生產(chǎn)廠家為減少生　產(chǎn)成本費，選用較小的光纜盤。除此之外，光纜盤沒用過木板進(jìn)行包封(一些是木架光纜盤，沒法用木板進(jìn)行包封)，而僅用塑料布在光纜表層進(jìn)行包囊，或是是單盤檢測后，光纜盤包封未修復(fù)，起不上需有的防護(hù)功效，當(dāng)光纜表層被石頭等硬塊硌傷后，光纖在束管中受力，即造成一個衰耗臺階，主要表現(xiàn)在光纖后向透射曲線上，就產(chǎn)生一個很大的衰耗點。

　　4成端過程中造成的大衰耗點

　　在光纜成端過程中，也經(jīng)常會造成大衰耗點。在成端時，因為一般不進(jìn)行熔接耗損監(jiān)測，光憑工作經(jīng)驗操作，因而，造成大衰耗點的概率也大增。除此之外，在光纖熔接后安裝收容盤時，通常導(dǎo)致收容盤周邊　的光纖束管彎折半經(jīng)過小或?qū)е鹿饫w束管擰變化形，使光纖在這里造成一個很大的衰耗點，該類大衰耗點一般較為隱蔽，不像路線正中間的大衰耗點用OTDR能夠直接測出。